株式会社TERATESTは、ミリ波／テラヘルツテスト・計測・解析機器、半導体テストシステム・自動テスト装置、ミリ波・テラヘルツRFフロントエンドモジュールおよび高周波コンポーネントを開発・製造・販売しています。確かな計測技術で、通信・半導体分野の技術革新を支えます。
ミリ波／テラヘルツテスト・計測・解析機器は、最大50 GHzの信号生成・解析に対応し、5G NR、NTN、Wi-Fi、Bluetoothなどの無線通信技術における信号評価や性能試験に活用されています。
半導体テストシステム・自動テスト装置は、0.1～6 GHzに対応し、PA、LNA、RFスイッチ、フィルタ、チューナなどのデバイスから、PAMiD、L-FEM／DiFEM、LNA Bankなどの集積モジュールまで、研究開発・性能評価・量産テストを幅広く支援します。
また、増幅、逓倍、ミキシング、周波数変換などに対応するミリ波・テラヘルツRFフロントエンドモジュールに加え、周波数エクステンダをはじめとする40 GHz～1.1 THzの高周波コンポーネントも提供しています。
当社は、通信・半導体関連企業、大学・研究機関などのお客様に対し、研究開発から量産までの各段階に応じた製品とソリューションを提供しています。お客様の用途や測定条件を的確に把握し、製品選定、システム構成、カスタマイズ、技術サポートまで柔軟に対応します。
「計測を超えて、精度のその先へ。」という理念のもと、信頼性、効率性、使いやすさを追求し、お客様の課題解決と新たな価値の創出に貢献します。